X-STRATA 980 толщиномер для контроля толщины многослойных покрытий
Описание X-STRATA 980
Tолщиномер X-STRATA 980 для контроля качества любых покрытий- это высокопроизводительная, неразрушающая, энергодисперсионная рентгено-флюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, измерения толщин многослойных покрытий и элементного состава в в широком спектре материалов, измеряемые элементы от S16 до U92:
- Измерение толщины до 5 слоев (4 слоя плюс основа) / 15 элементов / межэлементная коррекция
- Одновременный анализ химического состава по 25 химическим элементам
- Аналитические методы в соответствии с ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 и IEC 62321
- Oxford Instruments самостоятельно изготавливает рентгеновскую трубку мощностью 100W (вольфрам) которая сочетает в себе высокую стабильность, более короткое время измерения, надежность и длительный срок жизни
- Необычайно высокое разрешение PIN детектора площадью 25мм2 обеспечивает оптимальную эффективность счета на любых уровнях энергий и улучшает диапазон обнаружения элементов 4096 каналов цифрового многоканального анализатора обеспечивают высокую скорость проходящего сигнала, коррекцию времени простоя и пульсаций для лучшей статистики измерений
- Термическая стабилизация и программная функция Spec-Cal, возможность внутреннего тестирования и автоматическая коррекция, обеспечивают хорошую стабильность во времени
- Множество коллиматоров обеспечивают оптимальную фокусировку потока расширяя возможности измерения
- Приспособление для первичной фильтрации оптимизирует условия возбуждения и улучшает соотношений сигнал/шум
- Лазер автоматически определяет правильное положение фокуса по оси Z на определенном расстоянии от анализируемой поверхности улучшая тем самым точность результата
- Большая закрытая камера объемом (59ммх51ммх22мм) для размещения больших образцов
- Закрытый дизайн камеры обеспечивает надежную защиту от излучения
- Моторизованный по осям XY столик (305x390 мм) с возможностью программирования движения 200x150м
- Возможность выбора между Эмпирическими калибровочными моделями и Методом Фундаментальных Параметров позволяет достигать точного результата на различных образцах
- Oxford Instruments поставляет сертифицированные стандарты (по толщинам) обеспечивая надежность результатов
- Надежный и прочный корпус позволяет эксплуатировать анализатор в производственных условиях
- Компактный дизайн позволяет разместить анализатор на небольшой рабочей поверхности
- Сервисная поддержка по всему миру осуществляется экспертами в области рентгеновской флюоресценции
- Анализатор является высочайшим достижением за более чем 25-ти летний опыт работы Oxford Instruments.
Комплект X-STRATA 980:
- Si-PIN детектор
- Рентгеновская трубка мощностью 100Вт (50кВ/2.0мA), вольфрамовый анод с микро-фокусом
- Набор коллиматоров 0.1, 0.2, 0.3, 1.27мм диаметр
- Фильтры первичного луча
- Лазерная фокусировка по оси Z
- Измерительная камера Внутренний объем 584 x 508 x 220mm для больших образцов
Примеры применения X-STRATA 980:
Производство электроники и электронных компонентов
- Определение химического состава и толщины покрытий
- Измерение толщины слоя Au и Pd на контактах печатных плат
- Измерение толщины слоя химического никеля на жестких дисках
- Анализ очень тонких слоев покрытия (Au/Pd < 0,1 мкм)
Иммерсионные покрытия для производства печатных плат ENIG, ENIP, ENIS, ImSn, ImAg, ENICIT, ENEPIG…
- Нанесение защитных покрытий в различных отраслях промышленности
- Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание)
- Одновременно анализ химического состава по 25 элементам
- Анализ гальванических растворов
Производство источников альтернативной энергии (солнечные панели, топливные элементы)
- Анализ химического состава поглощающего слоя CIS, CIGS, CdTe в пленочных элементах солнечных батарей
- Оптимизация электрической проводимости за счет контроля толщины проводящего слоя
Mo
|
TiAlN
|
%Cd %Te
|
|
стекло
|
Керамика
|
Стекло
|
Элементы солнечных батарей
|
Контроль материалов на соответствие директивы RoHS
- Обнаружение вредных примесей на уровне 10-3 – 10-4 %
- Анализ содержание токсичных элементов (Cd, Hg, Pb и т.д.) в пластике, резине, и т.д.
Au
|
SnPb
|
AuPPb
|
|
Ni
|
Ni
|
NiP
|
|
Cu
|
Cu
|
Cu
|
Содержание токсичных элементов
|
Анализ химического состава металлов и сплавов:
- Быстрый, неразрушающий анализ химического состава изделий из драгоценных металлов (Au, Ag, Pt, Pd и т.д.)
- Анализ химического состава цветных сплавов (Cu, Zn и т.д.)