XRF-100 анализатор

Описание XRF-100

Идентичен X-200 для элементов от титана и выше. Анализ нержавеющих сталей и цветных сплавов со скоростью, точность сопоставимой с конкурирующими брендами верхнего уровня, но НЕ анализирует элементы Mg, Si, Al, P и S.

Уникальные функции Анализатора XRF-100

• Детектор:
  

20 мм2 стандарт SDD и DPP. 125k cps, более 90% измерений в режиме реального времени.

• Рентгеновская трубка:
  

6-40kV, 200uA Rh40 кВ, анод Rh (сплав) или анод 40 кВ Au (геохимия, почвы и др.).

Характеристики XRF-100

Фильтры	6-позиционное фильтрующее колесо для оптимизации луча.
Импульсный процессор	14-разрядный АЦП с частотой оцифровки 80 MSPS, 8000 каналов MCA USB 2.0 для высокоскоростной передачи данных на главный процессор, Цифровая фильтрация, реализованная в FPGA для высокопроизводительной импульсной обработки 50nS - 24uS пиковое время.
Проверка и калибровка	Внутренний затвор из нержавеющей стали 316 для полностью автоматизированной калибровки и проверки уровня мощности эмиссии.
Главный процессор	ARM Cortex-A9 с двухъядерным процессором / 1,2 ГГц. Память: 1 ГБ оперативной памяти DDR2, 1 ГБ памяти NAND. Хранение: 8 ГБ SD
Питание	Извлекаемая литий-ионная батарея, возможность работы от штатного зарядного устройства от сети переменного тока, возможность горячей замены батареи (максимальное время переключения 60 с).
Габаритные размеры	7,25 "x 10,5" x 4,5 " (18,41см. x 26,67см. x 11,43см.)
Дисплей	5-дюймовый цветной сенсорный экран, тип видеопроцесора - PowerVR SGX540 с аппаратной поддержкой 3D-графики.
Внешний доступ/Передача данных	Wi-Fi, Bluetooth, USB. Возможность подключения к большинству устройств, включая программное обеспечение SciAps ProfileBuilder для ПК.
Рабочая температура	От 10 ° F до 130 ° F (от -12,5°С до + 54,4°С ) при 25% -ном рабочем цикле.
Масса	1,5 кг
Безопасность	Защита паролем (пользовательский уровень) и внутренние настройки (admin).