+7 (917) 220-20-52

info@analizmetalla.ru

Лаборатория металлов и сплавов


  • Анализ металлов и сплавов
  • Продажа и аренда спектрометров

Итого:

Сохранить на EMAIL

X-STRATA 980 толщиномер для контроля толщины многослойных покрытий


X-STRATA 980-04-07-19.jpg

Описание X-STRATA 980


Tолщиномер X-STRATA 980 для контроля качества любых покрытий- это высокопроизводительная, неразрушающая, энергодисперсионная рентгено-флюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, измерения толщин многослойных покрытий и элементного состава в в широком спектре материалов, измеряемые элементы от S16 до U92:


  • Измерение толщины до 5 слоев (4 слоя плюс основа) / 15 элементов / межэлементная коррекция
  • Одновременный анализ химического состава по 25 химическим элементам
  • Аналитические методы в соответствии с ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 и IEC 62321
  • Oxford Instruments самостоятельно изготавливает рентгеновскую трубку мощностью 100W (вольфрам) которая сочетает в себе высокую стабильность, более короткое время измерения, надежность и длительный срок жизни
  • Необычайно высокое разрешение PIN детектора площадью 25мм2 обеспечивает оптимальную эффективность счета на любых уровнях энергий и улучшает диапазон обнаружения элементов 4096 каналов цифрового многоканального анализатора обеспечивают высокую скорость проходящего сигнала, коррекцию времени простоя и пульсаций для лучшей статистики измерений
  • Термическая стабилизация и программная функция Spec-Cal, возможность внутреннего тестирования и автоматическая коррекция, обеспечивают хорошую стабильность во времени
  • Множество коллиматоров обеспечивают оптимальную фокусировку потока расширяя возможности измерения
  • Приспособление для первичной фильтрации оптимизирует условия возбуждения и улучшает соотношений сигнал/шум
  • Лазер автоматически определяет правильное положение фокуса по оси Z на определенном расстоянии от анализируемой поверхности улучшая тем самым точность результата
  • Большая закрытая камера объемом (59ммх51ммх22мм) для размещения больших образцов
  • Закрытый дизайн камеры обеспечивает надежную защиту от излучения
  • Моторизованный по осям XY столик (305x390 мм) с возможностью программирования движения 200x150м
  • Возможность выбора между Эмпирическими калибровочными моделями и Методом Фундаментальных Параметров позволяет достигать точного результата на различных образцах
  • Oxford Instruments поставляет сертифицированные стандарты (по толщинам) обеспечивая надежность результатов
  • Надежный и прочный корпус позволяет эксплуатировать анализатор в производственных условиях
  • Компактный дизайн позволяет разместить анализатор на небольшой рабочей поверхности
  • Сервисная поддержка по всему миру осуществляется экспертами в области рентгеновской флюоресценции
  • Анализатор является высочайшим достижением за более чем 25-ти летний опыт работы Oxford Instruments.

Комплект X-STRATA 980:


  • Si-PIN детектор
  • Рентгеновская трубка мощностью 100Вт (50кВ/2.0мA), вольфрамовый анод с микро-фокусом
  • Набор коллиматоров 0.1, 0.2, 0.3, 1.27мм диаметр
  • Фильтры первичного луча
  • Лазерная фокусировка по оси Z
  • Измерительная камера Внутренний объем 584 x 508 x 220mm для больших образцов

Примеры применения X-STRATA 980:


Производство электроники и электронных компонентов


  • Определение химического состава и толщины покрытий
  • Измерение толщины слоя Au и Pd на контактах печатных плат
  • Измерение толщины слоя химического никеля на жестких дисках
  • Анализ очень тонких слоев покрытия (Au/Pd < 0,1 мкм)

Иммерсионные покрытия для производства печатных плат ENIG, ENIP, ENIS, ImSn, ImAg, ENICIT, ENEPIG…


  • Нанесение защитных покрытий в различных отраслях промышленности
  • Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание)
  • Одновременно анализ химического состава по 25 элементам
  • Анализ гальванических растворов

Производство источников альтернативной энергии (солнечные панели, топливные элементы)


  • Анализ химического состава поглощающего слоя CIS, CIGS, CdTe в пленочных элементах солнечных батарей
  • Оптимизация электрической проводимости за счет контроля толщины проводящего слоя

Mo

TiAlN

%Cd %Te

стекло

Керамика

Стекло

Элементы солнечных батарей


Контроль материалов на соответствие директивы RoHS


  • Обнаружение вредных примесей на уровне 10-3 – 10-4 %
  • Анализ содержание токсичных элементов (Cd, Hg, Pb и т.д.) в пластике, резине, и т.д.

Au

SnPb

AuPPb

Ni

Ni

NiP

Cu

Cu

Cu

Содержание токсичных элементов


Анализ химического состава металлов и сплавов:


  • Быстрый, неразрушающий анализ химического состава изделий из драгоценных металлов (Au, Ag, Pt, Pd и т.д.)
  • Анализ химического состава цветных сплавов (Cu, Zn и т.д.)
Спасибо, ваше сообщение принято.
Прайс-лист успешно отправлен на Ваш E-mail
Спасибо! Файл отправлен. Мы перезвоним в ближайшее время
Спасибо, ваше сообщение принято.

Онлайн заявка

Для отправки формы нужно согласиться с условиями
Гарантируем конфиденциальность введённой информации